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Note per Studenti MOSFET - caratteristiche di uscita dalla struttura del canale

MOSFET - caratteristiche di uscita dalla struttura del canale

In questa pagina 6

È la domanda orale "ricavare le caratteristiche di uscita del MOSFET a partire dalla sua struttura" (Domande orali ricorrenti - elenco e tracce di rispostaDopo lo scritto il corso prevede una prova orale. Le domande ricorrenti sono una ventina e si riconducono a quattro gruppi: operazionale (integratore, non idealità, CMRR, strumentazione), giunzione pn e diodo (carica, campo, potenziale, larghezza, capacità, equazione di Shockley, raddrizzatori), transistor (BJT in zona attiva, modello del trasporto, effetto Early, piccolo segnale, MOSFET dalla struttura, stadi elementari) e circuiti integrati (differenziale, specchi di corrente). Per ogni domanda questa nota dà la traccia di risposta, le formule da saper scrivere e il rimando alla nota che contiene lo svolgimento.Domande orali ricorrenti - elenco e tracce di risposta →). Qui si ricavano le equazioni usate in Transistor ad effetto di campo - JFET e MOSFETNel transistor a effetto di campo la tensione di gate controlla la corrente di drain senza assorbire corrente (I_G = 0). Il MOSFET ha quattro versioni: canale n o p, enhancement (V_t > 0 per n) o depletion (V_t < 0 per n). In saturazione I_D = k(V_GS − V_t)² = I_DSS(V_GS/V_t − 1)²(1 + λV_DS), con g_m = 2|I_D|/|V_GS − V_t| e r_o ≈ 1/(λ|I_D|); in zona ohmica I_D = k[2(V_GS−V_t)V_DS − V_DS²]. Zone (n-MOS): interdizione V_GS < V_t; ohmica 0 < V_DS < V_GS − V_t; saturazione V_DS > V_GS − V_t (per il canale p, tutte le disuguaglianze si invertono). Il JFET segue le stesse equazioni del depletion con V_t = V_p (tensione di pinch-off).Transistor ad effetto di campo - JFET e MOSFET →.

Il condensatore MOS e la carica del canale

Tra il gate e il semiconduttore c'è l'ossido di spessore toxt_{ox}: la capacità per unità di area è Cox=εox/toxC_{ox}=\varepsilon_{ox}/t_{ox}. Esempio: εox=3,9⋅8,85⋅10−14=3,45⋅10−13 F/cm\varepsilon_{ox}=3{,}9\cdot8{,}85\cdot10^{-14}=3{,}45\cdot10^{-13}\ \mathrm{F/cm} e tox=10 nmt_{ox}=10\ \mathrm{nm} danno Cox=3,45⋅10−7 F/cm2C_{ox}=3{,}45\cdot10^{-7}\ \mathrm{F/cm^2} (34,5 fF/μm234{,}5\ \mathrm{fF/\mu m^2}).

Definizione (condensatore MOS: regimi di funzionamento e carica del canale). Si distinguono tre regimi del condensatore MOS (substrato di tipo p, n-MOS), in funzione di vGBv_{GB}:

  • accumulazione (vGB<0v_{GB}<0): il gate negativo richiama lacune sotto l'ossido; nessun canale;
  • svuotamento (0<vGB<Vt0<v_{GB}<V_t): il gate positivo respinge le lacune, lasciando ioni accettori fissi (zona svuotata) senza portatori mobili;
  • inversione (vGB>Vtv_{GB}>V_t): sotto l'ossido si accumula uno strato di elettroni liberi (il canale), la cui carica per unità di area è proporzionale alla tensione oltre la soglia: Qn=−Cox (vGS−Vt).Q_n=-C_{ox}\,(v_{GS}-V_t). VtV_t è la tensione di soglia: per vGS<Vtv_{GS}<V_t non c'è canale (interdizione).

Esempio. Con Cox=3,45⋅10−7 F/cm2C_{ox} = 3{,}45 \cdot 10^{-7}\ \mathrm{F/cm^2} e vGS−Vt=2 Vv_{GS} - V_t = 2\ \mathrm V: ∣Qn∣=Cox (vGS−Vt)=6,9⋅10−7 C/cm2|Q_n| = C_{ox}\,(v_{GS} - V_t) = 6{,}9 \cdot 10^{-7}\ \mathrm{C/cm^2}.

Ricavo della corrente in zona ohmica

Si applica una tensione VDS≥0V_{DS}\ge0 tra drain e source (con source e substrato a massa). Il canale ha lunghezza LL (coordinata yy, y=0y=0 al source e y=Ly=L al drain) e larghezza WW. Il potenziale V(y)V(y) del canale cresce da 00 a VDSV_{DS}: la tensione tra gate e canale nel punto yy diminuisce lungo il canale e la carica diventa (approssimazione di canale graduale) Qn(y)=−Cox [vGS−V(y)−Vt].Q_n(y)=-C_{ox}\,\big[v_{GS}-V(y)-V_t\big]. La corrente (di deriva: gli elettroni si muovono nel campo E=−dV/dyE=-dV/dy con velocità −μnE-\mu_nE) in una sezione di larghezza WW è ID=W μn ∣Qn(y)∣ dVdy=WμnCox [vGS−V(y)−Vt]dVdy.I_D=W\,\mu_n\,|Q_n(y)|\,\frac{dV}{dy}=W\mu_nC_{ox}\,\big[v_{GS}-V(y)-V_t\big]\frac{dV}{dy}.

Formula (corrente in zona ohmica del MOSFET e resistenza del canale). IDI_D è la stessa in ogni sezione (conservazione della corrente): si separano le variabili e si integra da y=0y=0 (V=0V=0) a y=Ly=L (V=VDSV=V_{DS}): IDL=WμnCox∫0VDS(vGS−Vt−V) dV=WμnCox[(vGS−Vt)VDS−VDS22].I_DL=W\mu_nC_{ox}\int_0^{V_{DS}}(v_{GS}-V_t-V)\,dV=W\mu_nC_{ox}\Big[(v_{GS}-V_t)V_{DS}-\frac{V_{DS}^2}2\Big]. ID=μnCoxWL[(vGS−Vt)VDS−VDS22]=k [2(vGS−Vt)VDS−VDS2],k=12μnCoxWL.\boxed{I_D=\mu_nC_{ox}\frac WL\Big[(v_{GS}-V_t)V_{DS}-\frac{V_{DS}^2}{2}\Big]=k\,\big[2(v_{GS}-V_t)V_{DS}-V_{DS}^2\big],\quad k=\tfrac12\mu_nC_{ox}\tfrac WL.} Per VDSV_{DS} piccola il termine quadratico è trascurabile: ID≃2k(vGS−Vt)VDSI_D\simeq2k(v_{GS}-V_t)V_{DS}, il canale è un resistore controllato dalla tensione di gate con ron=12k (vGS−Vt).r_{on}=\frac1{2k\,(v_{GS}-V_t)}.

Esempio. Con k=1,38 mA/V2k = 1{,}38\ \mathrm{mA/V^2}, vGS−Vt=2 Vv_{GS} - V_t = 2\ \mathrm V e VDS=1 VV_{DS} = 1\ \mathrm V: ID=1,38 [2⋅2⋅1−1]=4,14 mAI_D = 1{,}38\,[2 \cdot 2 \cdot 1 - 1] = 4{,}14\ \mathrm{mA}; per VDSV_{DS} piccola ron=12⋅1,38⋅2≈0,18 kΩr_{on} = \frac{1}{2 \cdot 1{,}38 \cdot 2} \approx 0{,}18\ \mathrm{k\Omega}.

Saturazione

Formula (saturazione del MOSFET: strozzamento del canale). La formula vale finché la carica è positiva su tutto il canale. Al drain la tensione tra gate e canale è vGS−VDSv_{GS}-V_{DS}: la carica si annulla per VDS=vGS−Vt=VovV_{DS}=v_{GS}-V_t=V_{ov} (strozzamento, pinch-off). Per VDS≥VovV_{DS}\ge V_{ov} il punto di strozzamento si sposta verso il source e la parte del canale tra lo strozzamento e il drain è una zona svuotata che regge la tensione in eccesso VDS−VovV_{DS}-V_{ov}: la corrente non cresce più, resta il valore ottenuto per VDS=VovV_{DS}=V_{ov}: ID=k [2Vov2−Vov2]=k Vov2=12μnCoxWL (vGS−Vt)2.I_D=k\,\big[2V_{ov}^2-V_{ov}^2\big]=k\,V_{ov}^2=\tfrac12\mu_nC_{ox}\frac WL\,(v_{GS}-V_t)^2. La modulazione della lunghezza di canale: la zona di strozzamento si allarga con VDSV_{DS} e la lunghezza efficace del canale diventa L−ΔL(VDS)L-\Delta L(V_{DS}), quindi IDI_D aumenta un poco: ID=kVov2(1+λVDS)I_D=kV_{ov}^2(1+\lambda V_{DS}), analogo all'effetto Early.

Esempio. Con k=1,38 mA/V2k = 1{,}38\ \mathrm{mA/V^2} e Vov=2 VV_{ov} = 2\ \mathrm V: lo strozzamento avviene a VDS=2 VV_{DS} = 2\ \mathrm V e ID=kVov2=5,52 mAI_D = k V_{ov}^2 = 5{,}52\ \mathrm{mA}.

La transcaratteristica in saturazione è la parabola ID=k (vGS−Vt)2I_D=k\,(v_{GS}-V_t)^2, il parametro gm=2k Vov=2ID/Vovg_m=2k\,V_{ov}=2I_D/V_{ov} (Transistor ad effetto di campo - JFET e MOSFETNel transistor a effetto di campo la tensione di gate controlla la corrente di drain senza assorbire corrente (I_G = 0). Il MOSFET ha quattro versioni: canale n o p, enhancement (V_t > 0 per n) o depletion (V_t < 0 per n). In saturazione I_D = k(V_GS − V_t)² = I_DSS(V_GS/V_t − 1)²(1 + λV_DS), con g_m = 2|I_D|/|V_GS − V_t| e r_o ≈ 1/(λ|I_D|); in zona ohmica I_D = k[2(V_GS−V_t)V_DS − V_DS²]. Zone (n-MOS): interdizione V_GS < V_t; ohmica 0 < V_DS < V_GS − V_t; saturazione V_DS > V_GS − V_t (per il canale p, tutte le disuguaglianze si invertono). Il JFET segue le stesse equazioni del depletion con V_t = V_p (tensione di pinch-off).Transistor ad effetto di campo - JFET e MOSFET →). I due regimi si raccordano con derivata continua in VDS=VovV_{DS}=V_{ov} (la parabola della zona ohmica ha il massimo proprio lì).

Esempio numerico

μn=400 cm2/(V s)\mu_n=400\ \mathrm{cm^2/(V\,s)} (mobilità superficiale, più bassa di quella di volume) con Cox=3,45⋅10−7 F/cm2C_{ox}=3{,}45\cdot10^{-7}\ \mathrm{F/cm^2} dà μnCox=138 μA/V2\mu_nC_{ox}=138\ \mu\mathrm A/\mathrm V^2; con W/L=20W/L=20: k=12⋅138⋅20=1,38 mA/V2k=\tfrac12\cdot138\cdot20=1{,}38\ \mathrm{mA/V^2}. Per Vt=1 VV_t=1\ \mathrm V e vGS=3 Vv_{GS}=3\ \mathrm V (Vov=2 VV_{ov}=2\ \mathrm V):

Grafico interattivo: Caratteristiche di uscita dell'esempio (k = 1,38 mA/V², V_t = 1 V) per V_GS = 2, 3, 4 V (V_ov = 1, 2, 3 V): parabola in zona ohmica fino a V_DS = V_ov, poi saturazione a k V_ov²; il tratteggio k V_DS² è il luogo dei punti di strozzamento

Varianti

  • p-MOS: i portatori sono lacune, μp\mu_p (circa tre volte minore di μn\mu_n), e tutte le tensioni e le correnti cambiano segno (Vt<0V_t<0 per l'enhancement, VDS<0V_{DS}<0).
  • Depletion: il canale esiste già a vGS=0v_{GS}=0 (si inserisce uno strato drogato sotto l'ossido): le stesse equazioni con Vt<0V_t<0 (n-MOS).
  • Equazione con IDSSI_{DSS}: IDSS=kVt2I_{DSS}=kV_t^2, e quindi ID=IDSS(vGS/Vt−1)2I_D=I_{DSS}(v_{GS}/V_t-1)^2 come usato negli esercizi.

Errori comuni

  • Dimenticare che la corrente è costante lungo il canale mentre la carica non lo è.
  • Usare la formula della zona ohmica per VDS>VovV_{DS}>V_{ov} (la parabola ridiscende).
  • Dimenticare il fattore 1/21/2 in k=12μnCoxW/Lk=\tfrac12\mu_nC_{ox}W/L (e la differenza tra k(VGS−Vt)2k(V_{GS}-V_t)^2 e μnCoxWL(VGS−Vt)2\mu_nC_{ox}\frac WL(V_{GS}-V_t)^2).
  • Usare la mobilità di volume (13001300) invece di quella superficiale più bassa del canale.

Versione ripasso

Enunciati e formule chiave

  • Condensatore MOS: Cox=εox/toxC_{ox}=\varepsilon_{ox}/t_{ox}. Regimi: accumulazione (vGB<0v_{GB}<0), svuotamento (0<vGB<Vt0<v_{GB}<V_t), inversione (vGB>Vtv_{GB}>V_t, canale di elettroni).
  • Carica del canale: Qn=−Cox(vGS−Vt)Q_n=-C_{ox}(v_{GS}-V_t) senza tensione di canale; con la tensione V(y)V(y) lungo il canale, Qn(y)=−Cox[vGS−V(y)−Vt]Q_n(y)=-C_{ox}\big[v_{GS}-V(y)-V_t\big] (approssimazione di canale graduale).
  • Corrente costante lungo il canale: ID=WμnCox[vGS−V(y)−Vt]dVdyI_D=W\mu_nC_{ox}\big[v_{GS}-V(y)-V_t\big]\frac{dV}{dy}, la stessa in ogni sezione.
  • Zona ohmica: integrando da 00 a LL, ID=μnCoxWL[(vGS−Vt)VDS−VDS22]=k[2(vGS−Vt)VDS−VDS2]I_D=\mu_nC_{ox}\frac{W}{L}\big[(v_{GS}-V_t)V_{DS}-\frac{V_{DS}^2}{2}\big]=k\big[2(v_{GS}-V_t)V_{DS}-V_{DS}^2\big], con k=12μnCoxWLk=\frac12\mu_nC_{ox}\frac WL. Per VDSV_{DS} piccola, ron=12kVovr_{on}=\frac{1}{2kV_{ov}}.
  • Saturazione: strozzamento (pinch-off) per VDS=Vov=vGS−VtV_{DS}=V_{ov}=v_{GS}-V_t; oltre, ID=kVov2=12μnCoxWL(vGS−Vt)2I_D=kV_{ov}^2=\frac12\mu_nC_{ox}\frac WL(v_{GS}-V_t)^2. Con la modulazione della lunghezza di canale ID=kVov2(1+λVDS)I_D=kV_{ov}^2(1+\lambda V_{DS}), analoga all'effetto Early.
  • Transconduttanza in saturazione: gm=2kVov=2IDVovg_m=2kV_{ov}=\frac{2I_D}{V_{ov}}; i due regimi si raccordano con derivata continua in VDS=VovV_{DS}=V_{ov}.
  • Varianti: p-MOS con μp\mu_p (circa tre volte minore) e segni opposti; depletion con Vt<0V_t<0; IDSS=kVt2I_{DSS}=kV_t^2.

Passaggi principali degli esempi

  • Ossido di 1010 nm con εox=3,45⋅10−13\varepsilon_{ox}=3{,}45\cdot10^{-13} F/cm: Cox=3,45⋅10−7C_{ox}=3{,}45\cdot10^{-7} F/cm2^2 (34,534{,}5 fF/μ\mum2^2). Con vGS−Vt=2v_{GS}-V_t=2 V, ∣Qn∣=6,9⋅10−7|Q_n|=6{,}9\cdot10^{-7} C/cm2^2.
  • Con μn=400\mu_n=400 cm2^2/(V·s): μnCox=138 μ\mu_nC_{ox}=138\ \muA/V2^2; con W/L=20W/L=20, k=12⋅138⋅20=1,38k=\frac12\cdot138\cdot20=1{,}38 mA/V2^2.
  • Con Vt=1V_t=1 V e vGS=3v_{GS}=3 V (Vov=2V_{ov}=2 V): saturazione ID=1,38⋅22=5,52I_D=1{,}38\cdot2^2=5{,}52 mA da VDS=2V_{DS}=2 V; zona ohmica a VDS=1V_{DS}=1 V: ID=1,38 [2⋅2⋅1−1]=4,14I_D=1{,}38\,[2\cdot2\cdot1-1]=4{,}14 mA; ron=12⋅1,38⋅2≈181 Ωr_{on}=\frac{1}{2\cdot1{,}38\cdot2}\approx181\ \Omega.

Errori tipici

  • Dimenticare che la corrente è costante lungo il canale mentre la carica non lo è.
  • Usare la formula della zona ohmica per VDS>VovV_{DS}>V_{ov}: la parabola ridiscende.
  • Dimenticare il fattore 12\frac12 in k=12μnCoxWLk=\frac12\mu_nC_{ox}\frac WL.
  • Usare la mobilità di volume (1300) invece di quella superficiale, più bassa, del canale.

Teoria collegata